Warning: mysql_connect() [function.mysql-connect]: Access denied for user 'e2064007'@'localhost' (using password: YES) in /usr/home/e2064003/virtual/oralpedia/index.php on line 17
データベース接続エラー！
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Warning: session_start() [function.session-start]: Cannot send session cache limiter - headers already sent (output started at /usr/home/e2064003/virtual/oralpedia/index.php:17) in /usr/home/e2064003/virtual/oralpedia/index.php on line 47

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<p></p> <table border='0' width='98%' cellpadding='0' cellspacing='4' style="background-color: white;"> <tr> <td colspan='2' width='50%' align='center' style="background-color: white;">←前の版</td> <td colspan='2' width='50%' align='center' style="background-color: white;">2008年11月25日 (火) 11:49の版</td> </tr> <tr><td colspan="2" align="left"><strong>1 行</strong></td> <td colspan="2" align="left"><strong>1 行</strong></td></tr> <tr><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;">[[category:その他]]</td><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;">[[category:その他]]</td></tr> <tr><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;"></td><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;"></td></tr> <tr><td>-</td><td style="background: #ffa; font-size: smaller;">[[画像:<del style="color: red; font-weight: bold; text-decoration: none;">ＳＰＭ</del>.jpg|right|200px|thumb|走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ） ㈱サンギ提供]]</td><td>+</td><td style="background: #cfc; font-size: smaller;">[[画像:<ins style="color: red; font-weight: bold; text-decoration: none;">microscope</ins>.jpg|right|200px|thumb|走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ） ㈱サンギ提供]]</td></tr> <tr><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;"></td><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;"></td></tr> <tr><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;">走査型プローブ顕微鏡（Scanning Probe Microscope）とは、探針という先端の尖った針をナノメートルレベルで試料表面に近接させ、三次元形状を高倍率で観察したり、物性分析を行ったりできる顕微鏡の総称をいいます。</td><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;">走査型プローブ顕微鏡（Scanning Probe Microscope）とは、探針という先端の尖った針をナノメートルレベルで試料表面に近接させ、三次元形状を高倍率で観察したり、物性分析を行ったりできる顕微鏡の総称をいいます。</td></tr> <tr><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;">SPMの分解能は、水平距離で数nm～100μm程度、垂直距離では10pm～10数μm程度となっており、非常に微小な領域の観察や分析が可能です。</td><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;">SPMの分解能は、水平距離で数nm～100μm程度、垂直距離では10pm～10数μm程度となっており、非常に微小な領域の観察や分析が可能です。</td></tr> <tr><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;">SPMでの測定においては、探針と試料間で検出される様々な物理量を利用していますが、原子間力を利用する原子間力顕微鏡（AFM）やダイナミックフォースモード（DFM）、トンネル電流を利用する走査型トンネル顕微鏡（STM）、表面電位を利用する表面電位顕微鏡（KFM）等、多くの種類があります。</td><td> </td><td style="background: #eee; font-size: smaller;">SPMでの測定においては、探針と試料間で検出される様々な物理量を利用していますが、原子間力を利用する原子間力顕微鏡（AFM）やダイナミックフォースモード（DFM）、トンネル電流を利用する走査型トンネル顕微鏡（STM）、表面電位を利用する表面電位顕微鏡（KFM）等、多くの種類があります。</td></tr> </table>

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<p>新しいページ: '<a href="/index.php?title=Category:%E3%81%9D%E3%81%AE%E4%BB%96" title="Category:その他">category:その他</a> <a href="/index.php?title=%E7%94%BB%E5%83%8F:%EF%BC%B3%EF%BC%B0%EF%BC%AD.jpg&amp;action=edit" class="new" title="画像:ＳＰＭ.jpg">走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ） ㈱サンギ提供</a> 走査型プローブ顕微鏡（Scanning P...'</p> <p><b>新規ページ</b></p><div>[[category:その他]]<br /> <br /> [[画像:ＳＰＭ.jpg|right|200px|thumb|走査型プローブ顕微鏡（ＳＰＭ） ㈱サンギ提供]]<br /> <br /> 走査型プローブ顕微鏡（Scanning Probe Microscope）とは、探針という先端の尖った針をナノメートルレベルで試料表面に近接させ、三次元形状を高倍率で観察したり、物性分析を行ったりできる顕微鏡の総称をいいます。<br /> SPMの分解能は、水平距離で数nm～100μm程度、垂直距離では10pm～10数μm程度となっており、非常に微小な領域の観察や分析が可能です。<br /> SPMでの測定においては、探針と試料間で検出される様々な物理量を利用していますが、原子間力を利用する原子間力顕微鏡（AFM）やダイナミックフォースモード（DFM）、トンネル電流を利用する走査型トンネル顕微鏡（STM）、表面電位を利用する表面電位顕微鏡（KFM）等、多くの種類があります。</div>

Sangi